連なったロール状製品をめっき加工を施す方法です。
連続生産するので安定した品質が低コストで得られ、ラインの設計によって様々な工程が可能となることが利点となっています。
製品形状にもよりますが、ストライプめっきやリングめっきも可能です。
| 形状 | リール状製品 ( 幅：15～65 mm、厚み：0.15～0.5 mm )※ 材質、製品形状によってこの値は変動します。 |
|---|---|
| 材質 | Fe材(42材など)、Cu材 |
| Agめっき | 部分Agめっき（下地めっき=Cu）、全面Agめっき（下地めっき=Cu、Ni） |
|---|---|
| Cuめっき | 全面Cuめっき |
| Niめっき | 全面Niめっき |
| 形状 | フレーム状製品 ( 幅：15～65 mm、厚み：0.15～0.5 mm )※ 材質、製品形状によってこの値は変動します。 |
|---|---|
| 材質 | Fe材(SUS材、42材など)、Cu材 |
| Agめっき | スポットAgめっき（下地めっき=Cu） |
|---|---|
| Auめっき | スポットAuめっき |
| 形状 | 容器に入る形状、隙間を通過しない大きさ※ 極端に変形する製品を除く |
|---|---|
| 材質 | Fe材(SUS材、42材など)、Cu材 |
| Agめっき | 全面Agめっき（下地めっき=Cu） |
|---|---|
| Auめっき | 全面Auめっき（下地めっき=Ni） |
| Snめっき | 全面Snめっき（下地めっき=Ni、Cu） |
| 仕様 | FT150H（日立ハイテックサイエンス社製）、上面垂直照射方式 |
|---|---|
| 用途 | 金属材料上のめっき厚測定、簡易スペクトル分析（定性分析）、微小部の薄膜めっきを高精度で測定 |
| 仕様 | SEA1200VX（SIIナノテクノロジー社製） |
|---|---|
| 用途 | 製品中に含有される元素の測定 |
| 仕様 | VAA-400（日本電色工業社製）、全波長同時補償方式 |
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| 用途 | めっき面の光沢度測定、分光反射率・分光透過率の測定 |
| 仕様 | QVH1-X302P1L-C（ミツトヨ社製）、透過・反射式 |
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| 用途 | XYZ法測定、めっきエリア自動測定、カット寸法自動測定 |
| 仕様 | SAT-5100（レスカ社製）、浮力・表面張力測定 |
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| 用途 | 半田濡れ性の評価 |
| 仕様 | S-3400N（日立ハイテクノロジーズ社製）、EMAX ENERGY EX-250（堀場製作所社製） |
|---|---|
| 用途 | めっき粒子の観察や不具合品の解析、低倍率～高倍率での観察が可能、EDXで元素分析が可能 |
| 仕様 | VHX-8000（キーエンス） |
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| 用途 | めっき表面の観察、粗さ測定、低倍率～高倍率での観察が可能 |
| 仕様 | AVIO-220MAX(パーキンソンエルマー社製) |
|---|---|
| 用途 | めっき液中の金属濃度の測定や不純物の測定、排水中の金属濃度の測定 |
| 仕様 | GENESYS180( Thermo Fisher 社製) |
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| 用途 | めっき液中の添加剤の定量分析 |
| 仕様 | IM4000(日立ハイテク社製) |
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| 用途 | 断面研磨済み試料の極表層の研磨仕上げ |
| 仕様 | クリーントンネル型クリーンルーム (株式会社 大氣社 製) 洗浄度クラス Class10 (ISO14644－1,粒径0.1μ以上が10個以下) |
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| 用途 | 半導体及び部品、精密機器の洗浄、外観検査、梱包・出荷 |